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顯微鏡顆粒測量?jì)x器簡(jiǎn)介-顯微清潔度等級測量?




來(lái)源:yiyi
時(shí)間:2012-12-20 16:08:25

顯微鏡顆粒測量?jì)x器簡(jiǎn)介-顯微清潔度等級測量?

解答:

利用顯微鏡將粉粒體放大,不僅可以直接量測粉粒體的粒徑,還可以看見粉粒體的形狀,較小可量測至 0.1奈米。

但傳統的人工逐一的測量單一顆粒的粒徑再加以統計分析,不但耗費大量時(shí)間及人力且受人為因素影響極大,

因此較不適用于工業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)檢測之用

所以搭配全自動(dòng)顯微油污等級分析系統可以克服以上缺點(diǎn)

詳情點(diǎn)擊:
顯微清潔度等級分析系統
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與X 光繞射法比較 光繞射法有哪些缺點(diǎn)?

解答:光繞射法即是利用繞射原理,以激光撞擊粉粒體表面

量測其反射光的角度,將各個(gè)數據資料加以統計分析即可計算出粉粒體粒徑大小及分布特性。
此法僅能測得粉粒體的平均粒徑,無(wú)法測得其粒徑分佈且所得的粒徑資料有限、準確度差及儀器價(jià)格昂貴

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